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| dtpr_versuch_1 [2014/03/25 16:07] – first beckmanf | dtpr_versuch_1 [2022/03/19 10:20] (current) – [Bericht] beckmanf | ||
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| ===== Digitaltechnik Praktikum Versuch 1 - Messung Grundgatter ===== | ===== Digitaltechnik Praktikum Versuch 1 - Messung Grundgatter ===== | ||
| - | Der erste Versuch dient zur Einführung in die Messtechnik. | + | Der erste Versuch dient zur Einführung in die Messtechnik. |
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| + | Die Versuche werden in mehreren Laboren parallel durchgeführt. Da es nicht möglich ist, jedes Labor mit der exakt gleichen Messtechnik auszustatten, | ||
| ==== Vorbereitung ==== | ==== Vorbereitung ==== | ||
| - | In diesem Versuch messen Sie die Verzögerungszeit von einem NAND Gatter 74HC00. Das Datenblatt zu dem Gatter finden Sie hier: | + | In diesem Versuch messen Sie die Verzögerungszeit von einem NAND Gatter 74HC00 |
| - | [[https://moodle.hs-augsburg.de/mod/url/view.php? | + | [[https://assets.nexperia.com/ |
| - | Die Definition von Schaltzeiten finden Sie im Buch von Fricke in Kapitel 4 | + | Die Definition von Schaltzeiten finden Sie im Buch von Fricke in Kapitel 4. Kapitel 5.1 finden Sie die Beschreibung eines Inverters aus CMOS Transistoren. |
| - | [[http://link.springer.com/ | + | [[https://link-springer-com.ezproxy.hs-augsburg.de/ |
| - | Das Benutzerhandbuch für das Oszilloskop finden Sie hier: | + | Das Benutzerhandbuch für das Oszilloskop finden Sie hier: |
| - | [[http://cp.literature.agilent.com/litweb/pdf/54709-97032.pdf]] | + | https://www.datatec.de/media/pdf/3c/ |
| - | ==== Durchführung ==== | + | [ [[https:// |
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| + | Im praktischen Prüfungsteil müssen Sie Ihre Ergebnisse in Form eines Berichts dokumentieren und über Moodle hochladen. Deshalb haben Sie hier Gelegenheit auch solche Berichte anzufertigen und über Moodle abzugeben. Die Form des Berichts finden Sie hier: [[dt_berichtsform | Form des Berichts ]]. | ||
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| + | ===== Durchführung | ||
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| + | ==== Oszilloskop und Funktionsgenerator | ||
| === Start des Oszilloskops === | === Start des Oszilloskops === | ||
| - | Starten Sie das Oszilloskop und schließen Sie eine Analogprobe an. Am Scope wird ein Testsignal " | + | Starten Sie das Oszilloskop und schließen Sie eine Analogprobe an. Am Scope wird ein Testsignal " |
| === Start des Funktionsgenerators === | === Start des Funktionsgenerators === | ||
| - | Starten Sie den Funktionsgenerator HMF2550 und erzeugen Sie ein Rechtecksignal mit einer Frequenz von 10 MHz. Die niedrigste Spannung soll 0V und die höchste Spannung sollen | + | Starten Sie den Funktionsgenerator HMF2550 |
| + | |||
| + | === Fragen zum Oszilloskop und zum Funktionsgenerator === | ||
| * Welchen Einfluss hat der große Drehknopf im Feld " | * Welchen Einfluss hat der große Drehknopf im Feld " | ||
| * Welchen Einfluss hat der kleine Drehknopf im Feld " | * Welchen Einfluss hat der kleine Drehknopf im Feld " | ||
| * Welchen Einfluss hat der kleine Drehknopf im Feld " | * Welchen Einfluss hat der kleine Drehknopf im Feld " | ||
| - | * Welchen Einfluss hat der große Drehknopf bei Kanal 1 im Feld " | + | * Welchen Einfluss hat der große Drehknopf bei Kanal 1 im Feld " |
| - | * Welchen Einfluss hat der kleine Drehknopf bei Kanal 1 im Feld " | + | * Welchen Einfluss hat der kleine Drehknopf bei Kanal 1 im Feld " |
| - | * Messen Sie die Frequenz des Rechtecksignals mit dem Scope. | + | * Messen Sie die Frequenz des Rechtecksignals mit dem Scope. |
| - | * Messen Sie die Risetime und die Falltime des Rechtecksignals. An welchen Punkten im Signalverlauf messen Sie? | + | * Messen Sie die Risetime und die Falltime des Rechtecksignals. An welchen Punkten im Signalverlauf messen Sie? |
| - | === Messung der statischen Übertragungskennlinie | + | ==== 74HC00 NAND Gatter - statisch und Verzögerungszeit ==== |
| - | Die statische Übertragungskennlinie gibt den Zusammenhang zwischen Eingangs- und Ausgangsspannung | + | === Messung der Ausgangsspannung |
| - | * Messen | + | Bevor Sie ein Signal mit dem Funktionsgenerator auf die Eingänge |
| - | * Stellen Sie aus den Messwerten eine Tabelle auf. | + | |
| - | * Zeichnen | + | |
| - | === Darstellung | + | * Schliessen Sie mit dem Netzteil eine Betriebsspannung von 5V an das IC an. Schauen im Datenblatt nach wo Sie die Betriebsspannung anschliessen müssen. |
| + | * Messen Sie mit dem Multimeter die Betriebsspannung. | ||
| + | * Legen Sie mit einem Kabel entweder 0V oder 5V (also Masse oder Betriebsspannung) an die Eingänge eines Gatters. | ||
| + | * Messen Sie mit dem Multimeter den Spannungspegel am Ausgang des Gatters. | ||
| + | * Überprüfen Sie alle möglichen Eingangskombinationen | ||
| - | Die Darstellung | + | === Messung |
| - | * Stellen | + | Die Schaltung 74HC00 enthält insgesamt 4 NAND Gatter. Schalten |
| - | * Legen auf Kanal 1 ein geeignetes Eingangssignal | + | |
| - | * Legen auf Kanal 2 das Ausgangssignal des Gatters. | + | |
| - | === Messung der Verzögerungszeit === | + | * messen Sie die Gesamtverzögerungszeit. |
| - | Die Schaltung 74HC00 enthält insgesamt 4 NAND Gatter. Schalten Sie die vier NAND Gatter als 4 Inverter in eine Kette und messen Sie die Gesamtverzögerungszeit. | + | Wie sind die Verzögerungszeiten |
| * Messen Sie tplh (Propagation Delay low high transition) | * Messen Sie tplh (Propagation Delay low high transition) | ||
| * Messen Sie tphl (Propagation Delay high low transition) | * Messen Sie tphl (Propagation Delay high low transition) | ||
| - | * Messen Sie tr | + | * Messen Sie tr (Risetime) |
| - | * Messen Sie tf | + | * Messen Sie tf (Falltime) |
| - | === Zeitlicher Verlauf des Stromverbrauchs | + | === Abhängigkeit von Spannungspegel |
| - | * Bringen | + | * Ändern |
| - | * Stellen Sie den Stromverlauf zusammen mit dem Signalverlauf am Eingang dar. Zu welchen Zeitpunkten verbraucht | + | |
| - | === Abhängigkeit | + | ==== Statische Übertragungskennlinie eines Inverters aus CMOS Transistoren ==== |
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| + | Im Baustein 4007 befinden sich sechs CMOS Transistoren. Bauen mit Hilfe der Transistoren in diesem Baustein einen Inverter auf. Das Datenblatt des Bausteins finden Sie hier: | ||
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| + | [[https:// | ||
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| + | === Messung der statischen Übertragungskennlinie === | ||
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| + | Die statische Übertragungskennlinie gibt den Zusammenhang zwischen Eingangs- und Ausgangsspannung eines Gatters wieder. Wählen Sie eine Betriebsspannung | ||
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| + | * Messen Sie die statische Übertragungskennlinie des Inverters mit Hilfe des Multimeters und des Netzteils. | ||
| + | * Stellen Sie aus den Messwerten eine Tabelle auf. | ||
| + | * Erstellen Sie mit einer Tabellenkalkulation eine grafische Darstellung der Übertragungskennlinie. | ||
| + | * Drucken Sie die Übertragungskennlinie aus und zeichnen Sie die zugehörigen Werte aus dem Datenblatt ein, die für die Übertragungskennlinie relevant sind. | ||
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| + | === Darstellung der statischen Übertragungskennlinie mit Oszilloskop === | ||
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| + | Verschalten Sie zwei MOS Transistoren zu einem Inverter. Messen Sie dann die statische Übertragungskennlinie des Inverters. Die Darstellung der statischen Kennlinie mit dem Scope erfolgt im XY Modus. Die X Ablenkung wird durch Kanal 1 und die Y Ablenkung von Kanal 2 gesteuert. Wenn auf Kanal 1 das Eingangssignal und auf Kanal 2 das Ausgangssignal des Gatters liegen, dann wird die Ausgangsspannung abhängig von der Eingangsspannung dargestellt. | ||
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| + | * Stellen Sie das Oszilloskop in den Modus " | ||
| + | * Legen auf Kanal 1 ein geeignetes Eingangssignal | ||
| + | * Legen auf Kanal 2 das Ausgangssignal des Gatters. | ||
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| + | === Zeitlicher Verlauf des Stromverbrauchs | ||
| - | * Ändern | + | * Bringen |
| + | * Stellen Sie den Stromverlauf zusammen mit dem Signalverlauf am Eingang dar. Zu welchen Zeitpunkten verbraucht | ||
| + | ==== Bericht ==== | ||
| + | Dokumentieren Sie Ihre Untersuchungsergebnisse in einem Bericht und laden Sie den [[https:// | ||